| DATE | 2007/05/31 |
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【日经BP社报道】
美国英特尔宣布了使采用高介电率(high-k)栅极绝缘膜与金属栅极的45nm级处理器“Hi-k”产品群实现完全无铅化的方针。45nm级的Hi-k产品群中包括新一代的“Core 2 Duo”、“Core 2 Quad”、“Xeon”产品群。该公司计划2007年下半年开始生产无铅的45nm级Hi-k产品。
铅(Pb)目前应用于将芯片连接到封装底板的部分等,但该公司45nm级Hi-k产品中完全没有使用铅。此外,计划08年使65nm级的芯片组也实现完全无铅化。作为目前所使用的Sn(锌)-Pb共晶焊锡的替代品,将使用Sn-Ag(银)-Cu(铜)类无铅焊锡。
该公司技术与制造事业部副总裁兼封装测试技术发展总监Nasser Grayeli表示,“本公司针对铅的禁用、产品能源效率的提高、温室气体排量的降低、水与原材料的再利用等环境问题正在积极采取措施”。
作为实现无铅化的措施之一,英特尔于02年首次开始生产无铅的闪存产品。于04年开始供应铅使用量比此前的微处理器以及芯片组封装降低95%的产品。(记者:加纳 征子)
■日文原文
米Intel社,high-kゲート絶縁膜とメタル ゲートを採用した45nm世代プロセサ製品を完全Pbフリー化
【图文】英特尔07年采用high-k材料和金属栅极
英特尔试制45nm工艺SRAM芯片 07年量产处理器
【IEDM】IBM与AMD开发45nm处理器制造技术 08年中期投产
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