| DATE | 2008/08/20 |
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【日经BP社报道】
美国IBM与4家合作伙伴企业以及美国纳米科学与工程学院(CNSE)共同开发出22nm工艺SRAM,并确认可正常工作。证实22nm SRAM可正常工作“为业界首次”(IBM)。此SRAM是在坐落于CNSE的IBM开发基地“Albany NanoTech”的300mm生产线上试制的。
与IBM共同开发的4家合作伙伴为:美国先进微电子器件(AMD)、美国飞思卡尔半导体(Freescale Semiconductor)、意法半导体(STMicroelectronics)以及东芝。22nm工艺的SRAM通过改进单元设计和电路布局,提高了工作稳定性。单元面积为0.1μm2,比32nm工艺的单元面积缩小约30%。
此次的工艺技术有以下七个重点:(1)具备边带附近工作函数的高介电率(high-k)栅极绝缘膜/金属栅极:(2)栅极长度小于25nm的晶体管;(3)薄隔离层;(4)新的离子注入方式;(5)尖端退火技术;(6)超薄硅化物;(7)镶嵌Cu触头。在此次开发中,光刻采用了高数值孔径(high-NA)的液浸曝光技术。
IBM等的开发团体将于2008年12月15~17日在美国旧金山举行的“2008 International Electron Devices Meeting(2008 IEDM)”上发表这一成果。(记者:大下 淳一)
■日文原文
IBMら5社連合,22nm世代のSRAMの動作を確認
【nano tech】东芝展出面向22nm工艺、形成有Fin FET的300mm试制晶圆
【IEDM】IBM等3公司开发新型相变内存 “可微细化到22nm工艺”
【SEMICON】英特尔:高折射率液浸也来不及应用于22nm工艺
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